Sökning: "focused ion beam scanning electron microscopy"
Hittade 2 uppsatser innehållade orden focused ion beam scanning electron microscopy.
1. Convolutional neural networks for semantic segmentation of FIB-SEM volumetric image data
Master-uppsats, Göteborgs universitet/Institutionen för matematiska vetenskaperSammanfattning : Focused ion beam scanning electron microscopy (FIB-SEM) is a well-established microscopytechnique for 3D imaging of porous materials. We investigate three poroussamples of ethyl cellulose microporous films made from ethyl cellulose and hydroxypropylcellulose (EC/HPC) polymer blends. LÄS MER
2. Quartzene – A promising thermal insulator : Studies of thermal conductivity’s dependence of density and compression of Quartzene® in the form of powder.
Kandidat-uppsats, Uppsala universitet/Institutionen för teknikvetenskaper; Uppsala universitet/Institutionen för teknikvetenskaper; Uppsala universitet/Institutionen för teknikvetenskaper; Uppsala universitet/Institutionen för teknikvetenskaper; Uppsala universitet/Institutionen för teknikvetenskaper; Uppsala universitet/Institutionen för teknikvetenskaper; Uppsala universitet/Institutionen för teknikvetenskaper; Uppsala universitet/Institutionen för teknikvetenskaperSammanfattning : The purpose of this project was to study Svenska Aerogel AB’s product Quartzene®, and develop its capacity as a thermal insulator. Quartzene® is a silica based mesoporous material developed by Svenska Aerogel AB, with properties similar to aerogels produced by the sol-gel process. LÄS MER
